Laboratoř slouží k diagnostice vlastností materiálů metodami rastrovací elektronové mikroskopie, environmentální rastrovací elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. Laboratoř je vybavena rastrovacím elektronovým mikroskopem VEGA 3 XMU s LaB6 katodou od firmy Tescan Brno a mikroskopem atomárních sil SPM 5500 od firmy Agilent.
Rastrovací elektronový mikroskop disponuje detektory sekundárních a zpětně odražených elektronů pro sledování struktury a složení vzorků, detektorem rentgenového záření od firmy Bruker pro prvkovou analýzu vzorků a zařízením pro měření proudů indukovaných ve vzorku dopadajícím svazkem elektronů (metoda EBIC). Řízené prostředí komory vzorku umožňuje provádět diagnostiku vzorků jak ve vakuu (řádově 10-2 Pa), tak v plynném prostředí do tlaku 2000 Pa (dusík nebo vodní pára) při konstantní teplotě vzorku, udržované pomocí Peltierova článku.
Mikroskop atomárních sil umožňuje diagnostiku ultrastruktury povrchu v kontaktním, akustickém AC nebo magnetickém AC režimu. Další dostupné metody jsou mikroskopie laterárních sil (LFM), dynamická mikroskopie laterárních sil (DLFM), Kelvinova mikroskopie (KFM), mikroskopie modulovaných sil (FMM) a mikroskopie detekce fázových posunů. Vzorky je možné pozorovat v kontrolovaném prostředí při stabilní teplotě.
V laboratoři jsou diagnostikovány veškeré elektrotechnické materiály se zaměřením na materiály pro elektrochemické zdroje elektrické energie. Provádějí se zde i profilometrická měření velmi tenkých vrstev.
Přístrojové a technické vybavení laboratoře
- Mikroskop atomárních sil Agilent 5500 SPM
- Environmentální rastrovací elektronový mikroskop Tescan VEGA3 XM
